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南开大学：脑机接口传感器安全取出试验成功，技术安全性提升
2024-08-16 自选股写手
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【南开大学完成介入式脑机接口传感器血管内取出试验】南开大学近日宣布，进行了介入式脑机接口传感器及无线传输模块的安全取出试验。这是首次实现此类设备的安全取出，显著提升了介入式脑机接口技术的安全性。此次试验为该技术的临床应用提供了坚实保障，预示着未来在医疗健康领域的广泛应用潜力。
（责任编辑:郭健东）
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